X射线的有效穿透深度极小，通常仅为几微米至十几微米，只能测量材料表层的残余应力。若需测量内部应力或应力梯度，必须采用剥层法逐层剥离并逐层测量，再通过算法换算内部真实应力，不能直接测量深处。