采用线性阵列探头检测时，需对探头进行180°旋转实现对螺栓断面的全覆盖检测。菊花阵列探头晶片呈一维线性圆周排列，检测时无需转动探头。全聚焦（TFM）扫查技术相对而言对探头的位置不敏感，可以在不同深度进行全聚焦检测，大大减少近表面盲区，具有更高的分辨率和缺陷形貌还原能力。