X射线探伤通过胶片记录信息,其最突出的特点之一是检测结果有直接记录可长期保存,且对( )检出率很高。
面积型缺陷
体积型缺陷
表面开口缺陷
近表面折叠缺陷
X射线探伤基于不同密度物质对射线吸收系数不同的原理成像,对体积型缺陷(如气孔、夹渣、烧穿等)因厚度或密度变化明显而检出率很高。面积型缺陷若角度不当易漏检,表面开口缺陷更适合渗透或磁粉检测。
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